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“JATEN嘉腾QVS系列二维全自动影像测量仪生产”参数说明
| 品牌： | 嘉腾jaten | 加工定制： | 是 |
| 类别： | 光学检测仪器 | 测量范围： | 300*200cm |
| 测量精度： | 0.001 | 外形尺寸： | 1540X866X1750 |
| 用途： | 电子、塑胶、五金、模具等行业 | 标准装箱数： | 1 |
| 放大率： | 230X | 工作温度： | 28度 |
| 型号： | Qvs3020CNC | 规格： | 200*300 |
| 商标： | Jaten嘉腾 | 包装： | 1 |
“JATEN嘉腾QVS系列二维全自动影像测量仪生产”详细介绍
参数规格
仪器型号
QVS3020CNC
QVS4030CNC
QVS5040CNC
工
作
台
运动行程（m）
300x200x200
400x300x200
500x400x200
外形尺寸（长x宽x高）（m）
1540x866x1750
1540x1066x1750
1740x16x1760
仪器重量（kg）
360
400
520
承重（kg）
35
35
30
测量精度
X、Y轴
≤（3＋L/200）μm
Z轴
≤（4＋L/200）μm
光栅尺
进口开放式光栅尺，分辨率0.5μm
CCD
SONY彩色摄像机
光学系统
自动变倍镜头；可选配激光，可测量透明式玻璃的厚度和平整度
照明系统
连续可调式LED环形表面光及轮廓光，根据放大倍率确定最大光强
软件系统
QuickMeasuring全自动影像测量软件
工作环境
20°C±3°C，温度45%-75%
电源
20V±10%，50HZ
产品特点
高精度大理石基座、横梁保证极高的稳定性及刚性。
●小龙门移动式架构即工作台载物玻璃不动，可获得更高的速度而不影响测量。
●精密研磨级滚珠螺杆和日本THK精密线性导轨，配日本安川伺服马达采用双重闭环运动控制，具有高速精确的定位以及运动稳定性。
●配SONY高分辨率彩色摄像机，采用我公司自主研发的表面冷光源，表面光由独立四十八组光源组成，每一组均为恒流源驱动，连续可调，保证高品质的测量画面。
●测量系统采用进口开放式英国RENISHAW精密光学尺，分辨率为0.5μm.
●采用我公司开发的嵌入式模块控制电机，提高了电机响应速度，还简化了仪器与PC机的接口，PC机与仪器通过USB线和S端子线连接。
●自动连续变倍镜头，自动变倍后无需人工重新进行精度校验。
●影像导航系统让你快速定位工件测量位置，大幅提高测量效率。
●配有我司专用的全自动测量软件Quickmeasuring，可编程自动检测，大大提高测量效率。
●可选配英国RENISHAW接触式探针，并配送Φ1、Φ2探针，搭配Quickmeasuring全自动影像测量软件，进行三次元测量。
仪器型号
QVS3020CNC
QVS4030CNC
QVS5040CNC
工
作
台
运动行程（m）
300x200x200
400x300x200
500x400x200
外形尺寸（长x宽x高）（m）
1540x866x1750
1540x1066x1750
1740x16x1760
仪器重量（kg）
360
400
520
承重（kg）
35
35
30
测量精度
X、Y轴
≤（3＋L/200）μm
Z轴
≤（4＋L/200）μm
光栅尺
进口开放式光栅尺，分辨率0.5μm
CCD
SONY彩色摄像机
光学系统
自动变倍镜头；可选配激光，可测量透明式玻璃的厚度和平整度
照明系统
连续可调式LED环形表面光及轮廓光，根据放大倍率确定最大光强
软件系统
QuickMeasuring全自动影像测量软件
工作环境
20°C±3°C，温度45%-75%
电源
20V±10%，50HZ
产品特点
高精度大理石基座、横梁保证极高的稳定性及刚性。
●小龙门移动式架构即工作台载物玻璃不动，可获得更高的速度而不影响测量。
●精密研磨级滚珠螺杆和日本THK精密线性导轨，配日本安川伺服马达采用双重闭环运动控制，具有高速精确的定位以及运动稳定性。
●配SONY高分辨率彩色摄像机，采用我公司自主研发的表面冷光源，表面光由独立四十八组光源组成，每一组均为恒流源驱动，连续可调，保证高品质的测量画面。
●测量系统采用进口开放式英国RENISHAW精密光学尺，分辨率为0.5μm.
●采用我公司开发的嵌入式模块控制电机，提高了电机响应速度，还简化了仪器与PC机的接口，PC机与仪器通过USB线和S端子线连接。
●自动连续变倍镜头，自动变倍后无需人工重新进行精度校验。
●影像导航系统让你快速定位工件测量位置，大幅提高测量效率。
●配有我司专用的全自动测量软件Quickmeasuring，可编程自动检测，大大提高测量效率。
●可选配英国RENISHAW接触式探针，并配送Φ1、Φ2探针，搭配Quickmeasuring全自动影像测量软件，进行三次元测量。